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3215貼片晶振測試儀的操作方法

點擊次數:62   發布時間:2024/1/11 15:00:30

 CX-118A型晶振測試儀

 

1.概述

 

CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術,實現了智能化測量。本系列儀器采用倒數計數技術實現等測量。它測量高,靈敏度高,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能;中心頻率(標稱頻率)F0、分檔值Pr1Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。

 

2.主要特征

 

2本機采用倒數計數技術,測量高,測量范圍寬,真正實現等測量,測量速度快,靈敏度高。

 

2采用單片微機技術進行周期頻率測量和智能化管理,使得儀器具有很高的可靠性和優良的性能/價格比。

 

2整機采用大規模集成電路設計,CPLD器件的運用,使儀器元器件大為減少,可靠性有了很大的提高,平均無故障工作時間≥10000h。

 

·    整機外型美觀大方,體積小,重量輕,使用方便。

 

3.技術參數

 

3.1測量范圍

 

·    頻率測量:A通道:1Hz100MHz;

 

B通道:100MHz1.6GHz(選件)

 

·    周期測量:A通道:10ns1s

 

·    PPM測量:-99999999ppm

 

·    上、下限測量:可根據用戶所設定的上限參數FU、下限參數FL來測量被測頻率是否超出上、下限,超限則報警。

 

·    分檔測量:根據用戶所設定的中心頻率F0自動進行分檔測量。 分檔值:Pr1Pr8可在1999ppm之間任意設置

 

分檔檔數:以中心頻率F0為中點左右分成16

 

·    累加計數:計數容量:01091 (選件)

 

計數方式:鍵控、門控或外門控可選。

 

3.2輸入特性

 

·    輸入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF

 

B通道: 50Ω

 

3.2.2輸入耦合方式:AC

 

3.2.3波形適應性:正弦波、脈沖波

 

·    輸入電壓動態范圍:

 

A通道:30mVrms250Vpp

 

B通道: 30mVrms1Vrms

 

3.2.5A通道低通濾波器:-3dB 帶寬約100kHz

 

3.2.6A通道衰減:×1×20

 

3.3測量誤差

 

3.3.1頻率或周期測量誤差:±時基誤差±觸發誤差±LSD

 

100ns

 

其中:LSD=─────×被測頻率(或被測周期)

 

閘門時間

 

觸發誤差:當被測信號的信噪比為40dB時,觸發誤差≤0.3%

 

·    PPM測量誤差:±時基誤差±觸發誤差±LSD

 

其中:LSD(100ns/閘門時間)×106ppm

 

例如:閘門時間=1s LSD0.1ppm

 

閘門時間=0.1s LSD1ppm

 

3.3.3計數誤差:±1

 

3.4閘門時間

 

固定閘門:10ms、100ms、1s、10s 四檔可選;

 

可調閘門:50ms95ms 10檔,每檔間隔5ms。

 

3.5晶體振蕩器

 

標稱頻率:10MHz

 

頻率穩定度:5×10-6/d

 

(可根據用戶需求,選配更高量的晶振。

 

如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等)。

 

3.6外頻標輸入

 

輸入頻率:10MHz

 

輸入幅度:>1Vp正弦波

 

3.7顯示

 

130.4吋綠色高亮數碼管,三個單位LED指示燈(MHz、kHz、Hz),一個閘門LED指示燈(GATE),一個外頻標LED指示燈(EXT)和一個PPM單位指示燈(PPM)。

 

3.8電源

 

電壓:交流220V±10%

 

頻率:50Hz±5%

 

功耗:<8VA

 

3.9外形尺寸:230×250×90(mm)

 

3.10質量:<1.5kg

 

晶振測試盒選配:

 

晶體測量匹配器:

 

1KHz-20MHz (標配)

 

20MHz-40MHz ,

 

40MHz-65MHz

 

65MHz-100MHz .

原創作者:深圳市創鑫儀器有限公司

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